يضع هذا الجزء من المواصفة القياسية الدولية IEC 60749 إجراءًا لقياس قابلية الخطأ البسيطة لأجهزة أشباه الموصلات المزودة بذاكرة، عند تعرضها للأجزاء الحيوية مثل إشعاع ألفا. ويتم توضيح الاختبارين: الاختبار المتسارع باستخدام مصدر إشعاع ألفا واختبار نظام الوقت الفعلي (غير المتسارع) حيث تتولد أية أخطاء في ظل ظروف الإشعاع المنبعث طبيعيًا والذي يُمكن أن يكون ألفا أو إشعاع آخر مثل النيتروجين. وللتوصيف التام لإمكانية الخطأ البسيط للدائرة المتكاملة المزود بذاكرة، يجب أن يخضع الجهاز للاختبار الخاص بأطياف الطاقة العالية واسعة النطاق والنيوترونات الحرارية باستخدام طرق اختبار إضافية. ويمكن تطبيق طريقة هذا الاختبار على أي نوع من الدائرة الكهربائية المتكاملة المزودة بجهاز ذاكرة.